临床和诱发心律失常放电对植入ICD患者死亡率和致残率影响

作者:程中伟[1] 
单位:北京协和医院[1]

关键词:心律失常 ICD

临床和诱发放电对植入患者死亡率和致残率影响

1997年12月至2007年1月共1372名植入ICD患者进行队列研究。使用Cox百分比多因素分析方法,比较不同类型ICD放电(恰当临床放电或noninvasive electrophysiology study[NIPS]过程中放电)对急性失代偿心衰(acute decompensated heart failure,ADHF)全因死亡率和住院率的影响。分为四种ICD放电类型:仅ICD植入时放电(n=694),仅额外NIPS放电(n=319),仅额外恰当ICD放电(n=128),或仅额外不恰当ICD放电(n=104)。

NIPS和植入时放电患者死亡(校正HR:0.91,95% CI:0.69~1.20,p=0.491)或ADHF(校正HR:0.71,95% CI:0.46~1.16,p=0.277)危险性类似。恰当ICD放电患者死亡(校正HR:2.09,95% CI:1.38~2.69,p<0.001)和ADHF(校正HR:2.40,95% CI:1.51~3.81,p<0.002)危险性增加,与植入时放电比较;恰当ICD放电患者死亡(校正HR:2.61,95% CI:1.86~3.67,p<0.001)和ADHF(校正HR:2.29,95% CI:1.33~3.97,p=0.003)危险性亦增加,与NIPS放电比较。四种ICD放电类型患者累积死亡危险性见下图:

NIPS检测期间诱发心律失常放电并不增加死亡或ADHF危险性,与恰当ICD放电比较。自发心律失常发生的易损基质可解释危险性的增加。

原文链接:The prognostic impact of shocks for clinical and induced arrhythmias on morbidity and mortality among patients with implantable cardioverter-defibrillators


    2010/9/14 9:50:28     访问数:432
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2010/9/19 21:22:00
刘进民:拜读了
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